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Salatino, M., Bélier, B., Chapron, C., Hoang, D.T., Maestre, S., Marnieros, S., Marty, W., Montier, L., Piat, M., Prêle, D., Rambaud, D., Stankowiak, Guillaume, Thermeau, Jean Pierre, Torchinsky, S., Henrot-Versille, S., Voisin, F., Ade, P.A.R., Amico, G., Auguste, D., Aumont, J., Banfi, S., Barbaràn, Gustavo, Battaglia, P., Battistelli, E., Bau, A., Bennett, D., Bergé, L., Bernard, J.-P., Bersanelli, M., Bigot-Sazy, M.-A., Bleurvacq, N., Bonaparte, J., Bonis, J., Bordier, G., Breelle, E., Bunn, E.F., Burke, D., Buzi, D., Busselli, A., Cavaliere, F., Chanial, P., Charlassier, R., Columbro, F., Coppi, G., Coppolecchia, A., Couchot, F., D'Agostino, R., D'Alessandro, G., De Bernardis, P., de Gasperis, G., De Leo, M., De Petris, M., Di Donato, Andres, Dumoulin, L., Etchegoyen, A., Fasciszewski, Adrián, Franceschet, C., Gamboa Lerena, M.M., Garcia, B., Garrido, Xavier, Gaspard, M., Gault, A., Gayer, D., Gervasi, M., Giard, M., Giraud-Héraud, Y., Gómez Berisso, Mariano, González, M., Gradziel, Marcin, Grandsire, L., Guerrard, E., Hamilton, J.-Ch., Harari, D., Haynes, V., Incardona, F., Jules, E., Kaplan, J., Korotkov, A., Kristukat, C., Lamagna, L., Loucatos, S., Louis, T., Lowitz, A., Lukovic, V., Luterstein, R., Maffei, B., Masi, S., Mattei, Angelo, May, A.J., McCulloch, M., Medina, M.C., Mele, L., Melhuish, S.J., Mennella, A., Mundo, L.M., Murphy, J.Anthony, Murphy, J.D., O'Sullivan, Créidhe, Olivieri, E., Paiella, A., Pajot, F., Passerini, A., Pastoriza, Hernan, Pelosi, A., Perbost, C., Perdereau, O., Pezzotta, F., Piacentini, F., Piccirillo, L., Pisano, G., Polenta, G., Puddu, R., Ringegni, P., Romero, G.E., Schillaci, A., Scóccola, Claudia G., Scully, S., Spinelli, S., Stolpovskiy, M., Suarez, F., Tartari, A., Timbie, P., Tristram, M., Truongcanh, V., Tucker, C., Tucker, G., Vanneste, S., Viganò, D., Vittorio, N., Watson, B., Wicek, F., Zannoni, M. and Zullo, A. (2018) Performance of NbSi transition-edge sensors readout with a 128 MUX factor for the QUBIC experiment. Proceedings of SPIE - International Society for Optical Engineering, 10708. p. 107845. ISSN 0277-786X